LDO芯片電學特性測試方案

1. LDO芯片電學特性測試數字源表概述

   LDO，全稱為“Low Dropout Regulator”，是一種低壓差線性穩壓元器件。其工作原理為，使用在其飽和區域內運行的晶體管或場效應管（FET），從應用的輸入電壓中減去超額的電壓，產生經過調節的輸出電壓。相比于傳統的DC-DC變換器，LDO具有成本低，噪音低，靜態電流小的特點，需要的外接元件也很少，因此,LDO廣泛應用于需要穩壓輸出的場景。

   （UTC78XX系列LDO封裝以及內部電路示意圖）

2. 

3. 源表，SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元，“源”為電壓源和電流源，“表”為測量表，“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。普賽斯S系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產品 輸出電壓達300V， 小測試電流量程低至100pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應用于LDO類芯片測試。

   

4. 常用電性能參數測試

   LDO常用的電性能參數測試，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調整率、負載調整率、靜態電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數據，因此一般情況下，測試系統至少需要配置2臺SMU，并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制。（以下測試均參考UTC7805規格進行）

   

   （二線法連接示意圖）

   

   （四線法連接示意圖）

5. 測試方案

6. Vo輸出電壓測試

   Vo輸出電壓，是LDO在正常工作下的穩定輸出電壓值。當加載在LDO輸入端的工作電壓，在規定范圍內變動時，LDO的輸出電壓Vo穩定在特定范圍內。常用測試方法為，在LDO的輸入端，加載穩定變化的電壓，同時測量對應的輸出端電壓值。一般采用二線法連接即可。（參考UTC7805規格書，其規格參數5V左右）

   操作步驟

• V_oi輸入輸出電壓差，ΔVo線性調整率測試

  V_oi輸入輸出電壓差，是LDO正常工作時輸入端與輸出端的 小電壓差值。ΔVo線性調整率是輸入電壓變化后對輸出電壓造成的影響。常用測試方法為，在LDO的輸入端，加載穩定變化的電壓，同時測量對應的輸出端電壓值，并計算兩端電壓測差值，或者輸出端的變化值。此外，為降低測試中線材的干擾，輸入輸出電壓差測試可采用4線連接法進行測量。（參考UTC7805規格書，V_oi值為2V左右,ΔVo值為4mV左右）

  操作步驟

• ΔVo_load負載調整率測試

  ΔVo_load負載調整率是輸出端接不同負載，輸出端電壓的變化。由于源表可以直接當電子負載，所以可以直接讓源表做負載。常用測試方法為，保持LDO輸入端電壓穩定不變，在LDO的輸出端，加載不同的電流值，同時測量對應的輸出端電壓值，并計算輸出端的電壓變化值。此外，為降低測試中線材的干擾，該測試可采用4線連接法進行測量。（參考UTC7805規格書，ΔVo_load值為4mV左右）

  操作步驟

• IQ靜態電流測試測試

  IQ靜態電流，是指輸出端空載時，輸入端流進的電流。常用測試方法為，斷開LDO的輸出端的連接，加載不同的電流值，在LDO輸入端加載電壓，并測量對應的輸入端電流值。（參考UTC7805規格書，IQ值為5mA左右）

  

  （連接示意圖）

  操作步驟

以上是關于LDO芯片電學特性測試的信息，更多有關LDO芯片電學特性測試的信息找武漢生產廠家普賽斯儀表一八一四零六六三四七六